ELITE System

 
Das Erfassen der Bibliotheksparameter neuer Bauformen wird durch das ELITE-System wesentlich vereinfacht und kann Off-Line ohne Blockierung der Produktionsmaschinen erfolgen.
Die Bauteile- und Visiondaten werden im Teachingverfahren an der ELITE-Station zu den gleichen Konditionen wie am eigentlichen Bestückungsautomaten erfasst. Die Produktivität der Maschine wird somit nicht gestört, Bestückqualität verbessert und Bauteileerkennungsfehler minimiert.
Off-Line Bauteilteaching
  • Vermeidet Fertigungsverluste durch Blockieren der Produktionsmaschine für die Programmierung neuer Bauformen.
  • Reduziert Programmierzeit für neue Bauformen.
Verbesserte Bestückqualität
  • Analyse des Erkennungsbereiches und Toleranzen des Visionsystems.
  • Ermöglicht dem Bediener Visionparameter zu optimieren.
Netzwerkfähigkeit
  • Zusammenspiel mit EASY OLP.
  • Erlaubt Import / Export von EASY OLP Bibliothek und Maschinenbibliothek.
  • Bereitet Registrierung von  noch nicht registrierten Bauformen vor der Aktualisierung der lokalen Bibliotheken einzelner Maschinen durch Import, Vergleich und Zusammenführung vor.
mehr weniger
Einfache Bedienung
  • Bauteile werden durch Mausklick mittels der Autoteachingfunktion erfasst.
  • Erfasste Bauteile können sofort am Bestückungsautomaten eingesetzt werden.
  • Automatische Bauteilehöhenerkennung mittels Visionsystem.
  • Mit MFOV für Bauteile bis 54 x 85 mm verwendbar.
  • Reteaching und Test ohne Bauteil möglich, wenn Bildinformation einmal gespeichert ist.
  • Polygon-Funktion und automatische Anpassung der Beleuchtungsparameter.
mehr weniger
Technische Daten
 Abmessung (L x T x H)    
 180 x 250 x 472 mm
 Gewicht  12 kg
 Bauteileabmessungen        
 0402 Chip - 54 x 85 mm
 (abhängig von Bauteilhöhe)
 Min. Bauteileraster  0,3/ 0,4 mm
 Bauteilhöhe  0,1 - 25,4 mm
 Geeignete Systeme
 SM-Serie

mehr weniger
 

Schnellkontakt


Bitte um Rückruf
Bitte um Unterlagen per E-Mail
Bitte um Unterlagen per Fax



SUCHE

Suchen!

NEWSLETTER

Abonnieren!


ANSPRECHPARTNER

(Bitte wählen Sie)